400-635-7098
產(chǎn)品名稱：ST2558B-F02型箔上涂層電阻率方阻探頭
一 、功能與結(jié)構(gòu)特征概述
基本功能：ST2558B-F02 型箔上涂層電阻率/方阻探頭，有圓柱平頭形合金探針，配以四探針儀器和測(cè)試臺(tái)，用以測(cè)試金屬箔上涂層電阻率/方阻。
基本組成：成套探頭有探針、探針座、手持式外套、測(cè)試臺(tái)連接單元，儀器連接線纜等部件組成。
配套與兼容：本探頭兼容本公司所有四探針儀器和四探針測(cè)試臺(tái)，如下表主要型號(hào)，配以本公司測(cè)試臺(tái)，也可兼容其他大部分廠家四探針儀器。
ST2558B-F02 型箔上涂層電阻率/方阻探頭適用產(chǎn)品部分型號(hào)及名稱列表
測(cè)試臺(tái)型號(hào)名稱
四探針儀器型號(hào)名稱
型號(hào)
名稱
型號(hào)
名稱
SZT-A
四探針測(cè)試臺(tái)
ST2253
數(shù)字式四探針測(cè)試儀
SZT-B
電動(dòng)四探針測(cè)試臺(tái)
ST2258A
多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀
SZT-C
快速恒壓四探針測(cè)試臺(tái)
ST2258C
多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀
M-2
手持式四探針測(cè)試儀
M-3
手持式四探針測(cè)試儀
……
其他廠家型號(hào)
RST-4/8
數(shù)字式四探針測(cè)試儀
SDY-4
數(shù)字式四探針測(cè)試儀
二、主要技術(shù)參數(shù)及說(shuō)明
1 可測(cè)片料塊料或棒料等。最小樣品尺寸4mm×10mm，較大平面尺寸和厚度，由所配測(cè)試臺(tái)決定，手持探頭方式不限。
2 .1探 針 間 距：直線二針?lè)植迹?/span> 間距10.0mm。
2.2探針機(jī)械游移率： ±0.5%。
2.3探 針：鍍鎳合金，Φ4.0mm。
2.4壓 力： 0～1000g可調(diào),額定壓力約500g。
三、使用方式，探頭操作請(qǐng)參照各配套測(cè)試臺(tái)使用方式。儀器操作請(qǐng)參照儀器說(shuō)明書。
四、詳情請(qǐng)登陸蘇州晶格電子有限公司官方網(wǎng)站http://www.dbcchitec.cn 或
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五、聯(lián)系方式：18914021918/0512-80973697 QQ:1064887318 丁先生
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