蘇州晶格四探針測試儀報(bào)道

4月18日，《納米材料碳納米管粉體電阻率四探針法》國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)制定研討會(huì)在寧波材料所如期召開，本次參與會(huì)議的人員有納標(biāo)委領(lǐng)導(dǎo)、納米材料行業(yè)專家以及標(biāo)準(zhǔn)起草單位。

本次會(huì)議主要圍繞三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)展開討論，標(biāo)準(zhǔn)如下：

《納米材料 碳納米管粉體電阻率 四探針法》 送審稿

《納米材料 導(dǎo)體和半導(dǎo)體納米粉體材料電阻率的接觸式測量方式 通則》 送審稿

《納米材料 石墨烯材料電導(dǎo)率測量 四探針法》 討論稿

蘇州晶格電子丁海龍總經(jīng)理作為納米粉體電阻率測試儀技術(shù)專家應(yīng)邀出席，作為前兩個(gè)國標(biāo)持續(xù)跟進(jìn)技術(shù)交流服務(wù)（去年2018.12.7深圳納米國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)審定會(huì)），得到與會(huì)納標(biāo)委領(lǐng)導(dǎo)、行業(yè)專家和標(biāo)準(zhǔn)起草單位的一致好評(píng)。

納標(biāo)委成員

部分專家

本次會(huì)議，蘇州晶格電子丁海龍總經(jīng)理深入?yún)⑴c寧波材料所新起草的標(biāo)準(zhǔn)討論稿《納米材料 石墨烯材料電導(dǎo)率測量 四探針法》 技術(shù)交流。

對(duì)于寧波材料所遇到的技術(shù)難題：“粉體材料電阻率測試，先壓片后測試，壓片出模很大部分不能成型”。蘇州晶格電子，作為10年粉末電阻率測試儀專業(yè)生產(chǎn)廠家，已有完善的解決方案和成熟粉體電阻率測試儀器，技術(shù)方案的要點(diǎn)就是，改變“先壓片，后測試”的“異步測試”傳統(tǒng)思路，采用“一邊壓片一邊測試”的“同步測試”方案，無需考慮壓片成型的問題，從原理方案上很好回避了這個(gè)問題。還可以一下取樣，連續(xù)多點(diǎn)加壓，連續(xù)測試多組數(shù)據(jù)，避免異步測試的一下壓片只能得到一個(gè)壓強(qiáng)點(diǎn)數(shù)據(jù)，大大提高工作效率，真是事半功倍！

寧波材料所的標(biāo)準(zhǔn)項(xiàng)目負(fù)責(zé)人劉主任與會(huì)期間，現(xiàn)場和我們訂購了一套ST2742B自動(dòng)粉末電阻率測試儀。

作為粉末材料電阻率測試儀生產(chǎn)廠家，蘇州晶格電子經(jīng)過10年的努力不斷推成出新，攻克測試"攔路虎"，讓粉末材料電阻率測試一步到位。