【會(huì)議概要】

2018年12月7號(hào)，《納米材料電阻率的測量方法》和《納米技術(shù) 碳納米管材料粉體電阻率測量方法》國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)審定會(huì)在深圳勝利召開。相關(guān)單位領(lǐng)導(dǎo)和專家就兩項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)的送審稿展開熱烈討論，深入交換意見，對標(biāo)準(zhǔn)的之后完善做了卓有成效的工作。

國內(nèi)標(biāo)委會(huì)納米標(biāo)委會(huì)代表組

【主要參會(huì)單位】

國內(nèi)標(biāo)委會(huì)納米標(biāo)委會(huì)代表組主持審定會(huì)議，參與審定會(huì)的還有：

標(biāo)準(zhǔn)的起草單位：中科院山西煤化所、深圳德方納米科技等；

檢測院所：無錫國內(nèi)石墨烯產(chǎn)品質(zhì)量檢測中心；

電阻率測試儀廠家：蘇州晶格電子有限公司；

納米材料生產(chǎn)單位：江蘇河海納米科技股份、江西晶瑞粉體等。

部分標(biāo)準(zhǔn)的起草單位、納米材料生產(chǎn)單位

【會(huì)議內(nèi)容】

審定會(huì)第一項(xiàng)，審定了《納米材料電阻率的測量方法》國標(biāo)送審稿。

此標(biāo)準(zhǔn)主要由中科院山西煤化所負(fù)責(zé)起草。

此標(biāo)準(zhǔn)涵蓋了納米材料導(dǎo)電性能方面多項(xiàng)指標(biāo)內(nèi)容和多種技術(shù)方法，可測量材料包含納米薄膜、納米粉體，可測量參數(shù)有方塊電阻、體電阻率，采用技術(shù)原理有四探針法和四端子法。

納標(biāo)委和與會(huì)代表一致認(rèn)為，此標(biāo)準(zhǔn)作為納米材料導(dǎo)電性能測量標(biāo)準(zhǔn)的系列標(biāo)準(zhǔn)框架來定性審定。本會(huì)議一同待審的同類標(biāo)準(zhǔn)《納米技術(shù)碳納米管材料 粉體電阻率測量方法》，錨定在此標(biāo)準(zhǔn)框架下協(xié)同審定。

與會(huì)代表就標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)內(nèi)容展開熱烈討論和審慎決議。包含技術(shù)原理、儀器設(shè)備、樣品處理、測量步驟、結(jié)果處理等。對標(biāo)準(zhǔn)命名也做了完善修改。

以下是部分討論決議的精彩內(nèi)容摘要：

原標(biāo)準(zhǔn)名稱《納米材料電阻的測量方法》，修改為《導(dǎo)體、半導(dǎo)體納米材料電阻率的測量方法》。

原標(biāo)準(zhǔn)中“粉末電阻率四探針法”中“彈性四探針法”修改為“固定四探針法”。

審定會(huì)第二項(xiàng)，審定了《納米技術(shù)碳納米管材料粉體電阻率的測量方法》國標(biāo)送審稿。

此標(biāo)準(zhǔn)由深圳德方納米科技、深圳市標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究院等負(fù)責(zé)起草。

此標(biāo)準(zhǔn)是作為第一個(gè)系列框架標(biāo)準(zhǔn)《納米材料電阻率的測量方法》中的細(xì)分特列標(biāo)準(zhǔn)來定性的。對應(yīng)于《納米材料電阻率的測量方法》中納米粉體電阻率測量方法-四探針法。

與會(huì)代表就本標(biāo)準(zhǔn)中技術(shù)原理、儀器設(shè)備、樣品處理、測量步驟、結(jié)果處理等展開熱烈討論和審慎決議。

由于期間審定的兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)具有高度相關(guān)性，特別就前后兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的一致性和協(xié)調(diào)性做了特別的討論。

標(biāo)準(zhǔn)審定會(huì)成員單位代表合影